光栅图像目标定位优化、波长特性分析方法及装置（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）

本发明公开光栅图像目标定位优化、波长特性分析方法及装置，基于高斯曲面拟合法提取光栅图像中特征光斑中心，得到特征光斑的位置坐标和特征光斑的像质参数，计算得到特征光斑的半高宽，从而计算光斑成像的偏倚角度，根据光斑成像的偏倚角度对五自由度机械连杆平台的伺服电机控制系统进行校准；基于特征光斑的位置坐标对现有色散模型表中有偏差的位置信息进行更新，形成新的基准；基于特征光斑的位置坐标和已知波长组成的光源信息，对波长与特征光斑的位置坐标进行定标关系的拟合，并计算出特征光斑对应的可分辨波长和分辨率。通过高斯曲面拟合算法对图像光斑进行目标识别，由于光斑的非规则特征，提取的光斑中心坐标更加准确。

《光栅图像目标定位优化、波长特性分析方法及装置（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）》是一发明专利，专利号为 2021110590039，当前法律状态为已下证，由南京邮电大学提出申请，发明人为丁飞;马海蓉;章华涛;张海涛;庄衡衡;张登银，申请日期为2021-09-10，公开（公告）日期为2024-10-29，国际专利分类号（IPC）为 G06T 7/00 (2017.01)，高新资质：未报高企。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开光栅图像目标定位优化、波长特性分析方法及装置，基于高斯曲面拟合法提取光栅图像中特征光斑中心，得到特征光斑的位置坐标和特征光斑的像质参数，计算得到特征光斑的半高宽，从而计算光斑成像的偏倚角度，根据光斑成像的偏倚角度对五自由度机械连杆平台的伺服电机控制系统进行校准；基于特征光斑的位置坐标对现有色散模型表中有偏差的位置信息进行更新，形成新的基准；基于特征光斑的位置坐标和已知波长组成的光源信息，对波长与特征光斑的位置坐标进行定标关系的拟合，并计算出特征光斑对应的可分辨波长和分辨率。通过高斯曲面拟合算法对图像光斑进行目标识别，由于光斑的非规则特征，提取的光斑中心坐标更加准确。

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