一种多分辨率叶片样品外观特征提取方法（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）

本发明涉及一种多分辨率叶片样品外观特征提取方法，属于叶片检测技术领域。本发明方法通过全景图像传感器采集整张叶片外观特征图像，对图像进行ROI分割处理，去除背景并提取出整张叶片ROI和叶片主脉ROI；在整张叶片ROI中，计算出工业显微镜采样点的数量与位置数据信息；将采样点到主脉距离不小于距离阈值

《一种多分辨率叶片样品外观特征提取方法（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）》是一发明专利，专利号为 2021112535430，当前法律状态为已下证，由昆明理工大学提出申请，发明人为张印辉;陈东东;何自芬;杨宏宽，申请日期为2021-10-27，公开（公告）日期为2026-04-24，国际专利分类号（IPC）为 G06V 10/44 (2022.01)，高新资质：未报高企。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明涉及一种多分辨率叶片样品外观特征提取方法，属于叶片检测技术领域。本发明方法通过全景图像传感器采集整张叶片外观特征图像，对图像进行ROI分割处理，去除背景并提取出整张叶片ROI和叶片主脉ROI；在整张叶片ROI中，计算出工业显微镜采样点的数量与位置数据信息；将采样点到主脉距离不小于距离阈值

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