光学测量专利转让_购买光学测量专利
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发明专利发明专利
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一种振荡式反射镜的相位校准系统及方法
专利号:2019102487306
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发明专利发明专利
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基于达菲光路的散斑干涉多参数测量系统及测量方法
专利号:2020107585897
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融合散斑干涉和剪切散斑干涉的缺陷深度检测方法
专利号:2020106902476
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基于数字散斑干涉的变形及斜率同步测量装置及测量方法
专利号:2016111499027
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一种三维数字散斑干涉同步测量方法及装置
专利号:2016102668469
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用于投影光栅建模的相机设置方法及装置
专利号:2019101132551
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基于滚动快门的相机设置方法及装置
专利号:201910112287X
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基于滚动快门的投影光栅建模方法及装置
专利号:2019101122545
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用于投影光栅建模的同步方法及装置
专利号:2019101122386
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TOF相机标定方法、系统及标定箱体
专利号:2020111927469
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一种基于最小二乘方向估计器的不连续相位分割与展开方法
专利号:202110925366X
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测量激光器工作物质荧光寿命的方法和系统
专利号:2019106408784
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一种基于隅角镜的光电自准直仪的测角方法
专利号:2018115625511
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倍增管管口自动烧结工艺
专利号:2018109980342
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一种增强型显微图像降噪恢复方法(高校 光学、光学成像、显微仪器及图像处理 光学测量 图像处理 / 计算成像)
专利号:2021100852675
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一种基于反向串联忆阻器的曝光量传感器(电子设备)
专利号:2017103580638
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基于后向反射器剪切干涉的准直波前测量方法
专利号:2019103843045
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带有折射镜的可提高放大倍数的位移传感器及其测量方法
专利号:2018112959597
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一种多台TOF相机抗干扰方法及系统
专利号:2020107094382
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基于随机扫描型雷达的标定方法
专利号:2020111483379
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发明专利发明专利
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一种增加自准直仪测量范围的方法
专利号:2018112690788
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一种自然光照明下的便携式相位相机系统
专利号:2017114586498
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一种测距装置和测距方法
专利号:2020102508659
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实用新型实用新型
一种光谱多角度测量固定夹具
专利号:2022220400613
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实用新型实用新型
已报高企
一种轮廓测量投影仪
专利号:2022223673792
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实用新型实用新型
一种具有自动追踪摄像孔测量功能的激光干涉仪
专利号:2021206964063
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实用新型实用新型
一种具有自动归位功能万能材料试验机
专利号:202120696379X
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实用新型实用新型
一种具有模拟自然界温度功能的恒温恒湿试验机
专利号:2021206963978
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实用新型实用新型
一种用于智能电子设备的可设置弯曲角度的电动折弯机
专利号:2021206964006
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实用新型实用新型
一种用于测量产品洁净度的水滴角测试仪
专利号:2021206963874
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发明专利发明专利
一种基于色差的自动对焦机器视觉测量装置及方法
专利号:2019100363313
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发明专利发明专利
基于近似二级反射率和蓬松度校正的彩色棉纤维须丛曲线光学测量方法
专利号:2022114279433
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发明专利发明专利
高表面反射的散射性混色材料中各单色材料厚度或质量的光学测量方法
专利号:2022111054071
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发明专利发明专利
基于频域振幅和相位迭代的白光干涉信号修正方法及装置
专利号:2025100130183
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发明专利发明专利
一种基于条纹周期测量的酒精浓度实时测量方法
专利号:202511718917X
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发明专利发明专利
基于图像处理的彩色共聚焦并行测量三维形貌还原方法
专利号:2021100976004
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发明专利发明专利
归一化光强的共焦差动测量有效区域的三维形貌还原方法
专利号:202210711460X
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发明专利发明专利
基于光场栅的位移测量装置及其位移测量方法
专利号:2019107418834
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发明专利发明专利
基于PDMS封装微纳光纤环腔的多轴应变光学测量装置及方法
专利号:2025119539642
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发明专利发明专利
一种抛光碳化硅衬底变质层厚度和光学常数椭偏检测方法
专利号:201910086651X
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关于「光学测量」专利转让
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「光学测量」专利能用于高企认定吗?
可以。「光学测量」领域的发明专利可作为高企认定核心自主知识产权(Ⅰ类),实用新型可作为辅助知识产权(Ⅱ类)。本站支持筛选「已报高企」专利,购买后即可用于申报。
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